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力学与实践 ›› 1986, Vol. 8 ›› Issue (3): 0-封3.doi: 10.6052/1000-0992-1986-065

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  • 收稿日期:2008-10-30 修回日期:1900-01-01 出版日期:1986-06-01 发布日期:1986-06-01

  • Received:2008-10-30 Revised:1900-01-01 Online:1986-06-01 Published:1986-06-01

摘要: 光调制自动光测弹性仪通过技术鉴定北京大学无线电系、物理系、力学系、电子仪器厂协作研制的光调制自动光测弹性仪可对平面光弹性模型(或三维应力冻结切片)上所测各点的主应力差N和主应力方向α进行逐点自动采集,通过微处理机算出所测截面的σ_x,σ_y和τ_(xy),并可将所得结果即时显示、打印和绘图。由于该系统采用光调制技术,待测各点的主应力方向和主应力差 ...