摘要: 经典的光测弹性力学,均推导有出现整数级和半级等差线条纹的理论公式,从而成为光弹性试验观测、计算结构应力的重要依据。但是,在实际的光弹试验的全场分析中,常感到此种条纹数的不足。特别是发展到今天,大量的三维应力工程问题中,往往在三向切片上的条纹甚少,有相当的部位根本没有等差线通过,而造成计算分析上极大的困难。因而如何加密等差 ...