安里千, 陈至达. 光弹性条纹自动检测分析系统[J]. 力学与实践, 1989, 11(6): 36-39. DOI: 10.6052/1000-0879-1989-154
引用本文: 安里千, 陈至达. 光弹性条纹自动检测分析系统[J]. 力学与实践, 1989, 11(6): 36-39. DOI: 10.6052/1000-0879-1989-154

光弹性条纹自动检测分析系统

  • 摘要: 本文提出的光弹性自动检测分析系统,是通过光电扫描和微型计算机自动条集和处理光弹性条纹信息,能实时,准确、迅速地检测条纹密度变化很大的受力模型,仅在十几分钟内就可输出(显示和打印)全场应力光图条纹中心线及其坐标,而且结构简单,造价低(仅为其他类型的自动光弹性系统的十分之一到二十分之一).

     

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